三思全元素分析仪 EDX-645A

三思全元素分析仪 EDX-645A

三思全元素分析仪 EDX-645A

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品牌:三思
生产厂家:三思
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三思全元素分析仪EDX-645A

 

全元素分析仪 EDX-645A 

 

三思专为高校、科研院所、商检机构定制的高端EDXRFSDD高分辨率探测器,牛津全套OEM光管和高压系统,精密的光路系统,开放的智能软件平台,专业级分析功能,为科研人士打造的全功能、高品质国内精品分析仪器,是代替国外高昂仪器的唯一选择。

【应用范围】
元素分析:钢铁、有色金属、塑胶、废旧原料回收、玻璃、水泥、地质矿产、考古文物等
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环保指令检测:RoHS、八大重金属、无卤素、HR4040
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可扩展:镀层测厚分析

【性能指标】
可测元素: (Na)-铀(U)
同时可测元素: 36

分析物质状态: 固态、粉末、液体
含量分析范围: 0.0002100%
含量检出限:
 2ppm
含量相对误差: 5
10%
分析 时 间: 60
300S
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可测镀层: 最多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜

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镀层种类: 单金属、合金、无机薄膜
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    度:  最高可达0.01um
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最小测量直径: 2mm

【技术参数】
探 测 器:进口SDD半导体探测器,分辨率达139eV
 管:钨(W)靶,最大电压50kV,最大电流1mA(靶材可定制)

          
设计寿命长达5万小时(牛津)
高压电源:精密X射线专用电源,最高输出电压
50kV
          
稳定度每8小时小于0.05%(牛津
)
 光 片:多组滤光片电动切换,有效降低背景干扰

准 直 器:直径8mm5mm2mm1mm0.5mm0.2mm电动切换,免去人工操作烦恼
对焦系统:旋钮视觉对焦
样 品 腔:大气
样品观察:高清晰彩色CCD射线头
X
 线:三重X射线防护(样品腔、机壳、程序控制),
          
远远低于GB16355-1996防辐射标准
输入电压:AC 220V/50HZ
    耗:
260W
样 品 腔:
660×400×135mm
外型尺寸:
680×460×475mm
    量:45Kg

【功能特点】
采用进口的最新型探测器,对超低含量的元素都能探测;
自动安全的高压防护电路设计;
独创的光路系统,增大X射线强度,减少散射背景;
专门针对科研人员工作特点,软件平台更具开放性、专业性;
紧密封闭的腔体设计、电路控制、机械控制三重X射线防护;
灵活精准的分析软件,既可进行简单、快速的物质测试,满足工业化生产需求,也可通过科学的参数配置满足复杂、高精度的元素分析;
采用了国际最先进、复杂的X荧光分析算法,比任何同类软件都要适应各种复杂、多样的物质分析;
对分析样品的状态、形状、大小自动进行校正,减少因制样不足而带来的误差。