Hitachi日立 H-7650透射电子显微镜

Hitachi日立 H-7650透射电子显微镜

Hitachi日立 H-7650透射电子显微镜

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Hitachi日立 H-7650透射电子显微镜

H-7650透射电子显微镜
 
产品介绍:

           H-7650透射电子显微镜

    H-7650是为生物领域及材料领域而开发的最先进的透射电子显微镜。H-7650配有高灵敏度的CCD相机,在低剂量电子束时可以得到最佳对比度的图像。由于CCD相机是和电镜是一体,因此可以通过手动控制板或PC机来控制CCD相机。在显示器上显示的图像可以以数字格式存储下来。内置的自动聚焦及其他自动的功能,以及数据库功能可以让操作者在电镜观察的过程中也能享受到友好的操作环境。

特点:

1.  使用日立独有的双狭缝物镜,可以得到独有的低倍大视野、高对比度成像的特点。
2.  标配有高灵敏度CCD相机,具有低剂量电子束成像的功能。CCD相机的灵敏度约比
     通常的光学相机高40倍。
3.   CCD相机与显微镜是一个完整的整体,这样可以有友好的操作环境。
4.   具有更多的自动化功能,如自动聚焦、自动消像散、自动拍照等。
5.   标准就具有图像数据库功能,测长、图像过滤功能等。
6.   具有较强的扩展功能,如三维重构等。

技术指标:

 分辨率:  0.2nm (晶格像)
 加速电压:  40kV ~ 120kV
 放大倍率:  连续放大模式:x200~x600,000
 低倍模式:x50 ~ x1,000
 图像旋转:  倍率范围:x1,000 ~ x40,000
 旋转角度:±90º (15º / 每步)
 数字相机:  1,024 x 1,024象素
 样品台:  侧插式优中心测角台
 样品台移动:X/Y:±1mm  Z:±0.3mm
 倾斜角度:±20º (±60º 可选)
 功能:图像导航功能和样品位置记忆功能

Hitachi日立 S-3400N扫描电子显微镜

Hitachi日立 S-3400N扫描电子显微镜

Hitachi日立 S-3400N扫描电子显微镜

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Hitachi日立 S-3400N扫描电子显微镜

S-3400N扫描电子显微镜
产品介绍:

              S­-3400N扫描电子显微镜

S-3400N具有最新开发的电子光学系统,强大的自动化功能,操作更简易。

特点:

1. S-3400N具有强大的自动功能,包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、
   自动合轴自动聚焦和消像散、自动亮度对比度等。
2. 在3kV低加速电压时保证有10nm的分辨率。
3. 新型5分割高灵敏半导体式背散射探头。
4. S-3400N II型具有五轴马达台,倾斜角度可达-20度~+90度,样品最高可达80mm。
5. 分析样品仓可以同时安装EDX , WDX 及EBSD。
6. 真空系统使用涡轮分子泵,洁净、高效。

技术指标:

 项目  描述
 SE分辨率  3.0nm (30kV),高真空模式 
 10nm (3kV), 高真空模式
 BSE分辨率  4.0nm (30kV),低真空模式
 放大倍率  x5 ~ x300,000
 加速电压  0.3 ~ 30 kV
 低真空范围  6 ~ 270 Pa
 最大样品尺寸  直径200mm
 样品台            I型                              II型
 X          0 ~ 80mm                          0 ~ 100mm
 Y           0 ~ 40mm                          0 ~ 50mm
 Z          5 ~ 35mm                          5 ~ 65mm
 R             360º                              360º
 T         -20º~ +90º                        -20º ~ +90º
 最大样品高度       35mm (WD=10mm)                     80mm (WD=10mm)
 驱动类型           手动                            五轴马达驱动
 灯丝  预对中钨灯丝
 物镜光栏  可移动式4孔物镜光栏
 枪偏压  固定比例偏压、手动偏压和自动4偏
 检测器  二次电子检测器
 高灵敏度半导体背散射电子检测器
 分析位置  WD=10mm, TOA=35o
 控制  鼠标、键盘,手动旋钮
 自动调校  自动灯丝饱和、自动4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴、自动聚焦  
 消像散、自动亮度对比度 


Hitachi日立 S-5500超高分辨率扫描电子显微镜

Hitachi日立 S-5500超高分辨率扫描电子显微镜

Hitachi日立 S-5500超高分辨率扫描电子显微镜

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Hitachi日立 S-5500超高分辨率扫描电子显微镜

S-5500超高分辨率扫描电子显微镜
产品介绍:

           

               S-5500超高分辨率扫描电子显微镜

   S-5500的独特设计可以保证0.4nm的超高分辨率,从而获得新的信息并展现纳米世界的秘密。

1. 新型的物镜设计可以使其达到世界最高分辨率:0.4nm
   (30kV)。同时新的控制系统使得超高分辨的显微分析变得
   简单易行。
2. 保证分辨率为0.4nm (30kV), 1.6nm (1kV)
3. Hitachi的专利技术ExB可以让操作者优化图像中SE和BSE信号的比例
4. 新开发的BF/DF双STEM检测器可以同时显示BF像及DF像。在DF STEM模式中还可以改变检测角度。(可选)
5. 电子光学系统的改进可以不用改变样品位置而同时进行EDS分析及形貌观察。
6. 可以使用与FIB兼容的样品杆。

技术指标:

 二次电子分辨率  0.4nm (30kV) ;1.6nm (1kV)
 加速电压  0.5~30kV
 放大倍率  60X ~ 10,000X (低倍模式) ;800~2,000,000X(高倍模式)
 电子枪  冷场发射电子源
 透镜系统  3级电磁透镜系统
 物镜光栏  可变型 (4孔,在真空系统外进行微调,100-50-50-30µm)
 消像散线圈  八极电磁线圈系统
 扫描线圈  2级电磁偏转线圈(高倍模式) ;1级电磁线圈(低倍模式)
 样品台  侧插式测角台
 样品台移动  X:±3.5mm, Y: ±2.0mm; Z: ±0.3mm, T: ±40°
 样品尺寸  最大5.0mmx9.5mmx3.5mmH (Bulk)
 最大2.0mmx6.0mmx5.0mmH (Cross-section)
 电子图像移动  ±5µ
 检测器  二次电子检测器
 上部背散射电子检测器(可选)
 YAG型背散射电子检测器(可选)
 BF/DF 双STEM检测器(可选)
 STEM检测器(可选)
 X射线能谱仪 (可选)