persee普析TXRF8全反射X射线荧光分析仪
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品牌:Persee普析
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persee普析TXRF8全反射X射线荧光分析仪
全反射X荧光(TXRF)分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术,使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪(EDXRF)本底降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏度,避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应;同时TXRF技术又继承了EDXRF方法的优越性。它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL级以下)、用样量少(μL、ng级)、准确度高(可用内标法)、简便、快速,而且可进行无损分析,成为一种不可替代的全新的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会,该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于领先地位。 在X荧光谱仪范围内,与波长色散谱仪(WDXRF)方法比较,由于TXRF分析技术用样量很少,也不需要制作样品的烦琐过程,又没有本底增强或减弱效应,不需要每次对不同的基体做不同的基体校准曲线。另外由于使用内标法,对环境温度等要求很低。因而在简便性、经济性、用样量少等方面,都比WDXRF方法有明显的优越性。 在整个元素分析领域内,TXRF技术可以对从钠(11Na )到铀(92U)的所有元素进行分析,一次可以对近30种元素进行同时分析,这是原子吸收谱仪中的ETAAS和FAAS方法难以做到的。与质谱仪中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析(NAA)等方法相比较,TXRF分析方法在快速、简便、经济、多元素同时分析、用样量少、检出限低、定量性好等方面有着综合优势。 北京普析通用仪器有限责任公司作为分析仪器的专业制造商,推出的TXRF8双光路全反射X荧光分析仪,其性能优良,质量可靠,是分析人员的好帮手。该产品通过了国家制造计量器具CMC认证,还通过了省部级专家鉴定,认定“其主要技术指标处于国内领先,达到了国际先进水平”,其后又经过多年的应用研究和改进提高,目前TXRF8双光路全反射X荧光分析仪已推广使用,在快速定性定量分析、贵金属分析、湿法冶金元素分析中都有着独特的优势。 ◇ 应用领域: |
主要特点 |
1. 多元素同时分析:一次可分析近30种元素;
2. 检出限低:
3. 灵敏度高:
4. 测量元素范围广
5. 样品用量少
6. 直接测量
7. 测量时间短
8. 安全稳定
9自动化程度高,操作方便
10.应用领域广:适合于各种样品类型和应用领域; |
技术参数 |
主要性能指标: 1.最低绝对检出限:pg级(10-12g); 2.最低相对检出限:ng/mL级(10-9); 3.重复性:1%-3%(从常量到浓度为0.50mg/L-2.000mg/L) 4.稳定性:2%-4%(从常量到浓度为0.50mg/L-2.000mg/L) 5.单次可同时分析元素数量:近30种; 6.分析元素范围:Na-U 7.样品用量:μL、μg级; 8.定量方法:基本参数法;内标法; 9.测量时间:少于1000S 10激发功率:小于500W
配置: |