persee普析XRF9能量色散X射线荧光分析仪

persee普析XRF9能量色散X射线荧光分析仪

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品牌:Persee普析
生产厂家:persee普析
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persee普析XRF9能量色散X射线荧光分析仪

X射线荧光(XRF)分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体,液体样品中主,次多元素同时测定,检出限在mg/kg 量级范围内,制样方法简单,现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术,可以直接应用于现场、原位分析,在材料分析领域占有重要地位。

XRF9能量色散X射线荧光分析仪正是基于X射线荧光分析技术设计的一款新型X射线荧光光谱分析仪。可实现对样品中所含元素快速,无损,准确的定性、定量分析。采用XRF9分析仪进行成分辨别无需复杂的化学前处理,是最快速,经济的方法。

主要特点

1.样品无损检测:固体样品可直接检测,无需化学前处理。
2.分析速度快:测试时间小于300S
3.多元素同时分析.
4.仪器采用先进的多光束可调节系统:为各元素测试提供最佳条件
5.仪器采用自动调节双层六通道滤光系统:保证各元素得到最佳测试效果
6.高分辨率探测器:无需液氮冷却,运行成本低
7.XYZ三维运动样品台:样品运动自动控制,测试点自由选取。
8.CCD摄像及样品自动定位系统:各方位监测样品,测试部位图像直接显示在样品测试报告。
9.软件系统:功能强大,操作容易。
10.完善的辐射安全防护

技术参数

仪器系统组成及规格
1.高压电源:最高50Kv/1mA
2.X射线管:Ag靶(W、Mo、Rh靶可选)
3.滤光片:六通道
4.探测器:Si-PIN电子冷却
5.信号处理系统:PX-1
6.数据处理系统:XRF9软件
7.防护机柜:电机连锁防护

persee普析XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪

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persee普析XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪

X射线荧光(XRF)分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体,液体样品中主,次多元素同时测定,检出限在mg/kg 量级范围内,制样方法简单,现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术,可以直接应用于现场、原位分析,在材料分析领域占有重要地位。

XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪是基于X射线荧光分析法对样品进行定性定量分析、检测构成元素类别和含量的小型化仪器。针对不同领域分析需求设有不同专业型号仪器。XRF7仪器轻便,体积小巧,适合野外作业;仪器内置GPS定位系统可自动存储每个采样点地理位置信息;真正实现了现场快速、准确、系统的分析检测。

◇ 广泛应用领域
环境保护:土壤中重金属分析;涂料、油漆、颜料及塑料中有害金属分析;电子电器类产品及玩具中重金属分析
石油化工:催化剂、添加剂元素分析;石油及石油产品中硫和金属杂质分析;润滑油中金属分析
合金领域:成份分析、合金分类、金属加工、金属回收利用
地矿领域:矿山、矿石分析,矿物分析、选矿工艺控制
材料领域:耐火材料、玻璃、陶瓷、水泥等成份分析,质量控制
林业:木材保护剂成份分析

 

 

主要特点

XRF7采用高性能微型射线管及高分辨探测器并配合优化的自动滤光系统及低信噪比电子系统使其具有卓越性能。

固体测量—-无需复杂的样品前处理
携带方便—-体积小,重量轻,便于野外携带
操作便捷—-轻扣扳机完成测试
自动定位—-内置GPS定位系统,自动存储每个采样点地理位置信息
无损检测—-非破坏性分析,不影响实验室其他后续检测
快速分析—-只需片刻,即可完成样品的元素检测
精确可靠—-测试结果稳定可靠
彩色触屏—-直观,便捷 ,易于操作
海量存储—-可存储大量数据
附件齐全—-应对多种分析要求
完善保护—-安全锁、感应光闸、整体辐射防护设计
易于维护—-无耗材,维护费用极低
技术领先—-拥有多项专利设计

技术参数

 

项目 指标
激发源 微型X射线管(Ag靶)
高压电源输出电压 10-40 kV
高压电源输出电流 5-200 μA
高压电源稳定性 ±0.1%
探测器 电致冷高性能Si-PIN探测器
元素分析范围 Al~U
含量分析范围 1ppm~99%
电池 两块锂电池可连续使用8小时;使用 AC100-240V电源充电
工作温度 1-40 ℃
工作湿度 相对湿度<80%
测量对象 固体、粉末、液体
重量 1.7 kg